LED高低溫快速溫度沖擊試驗箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預測和改進產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。用于檢測電子、汽車、橡膠、塑膠、航天科技、電子科技及通信器材等產(chǎn)品在反復冷熱變化下的抵抗能力。

　　適用于、艦船、電工、電子、儀器儀表；科研器械；民用核能；高等院校；科研實驗所；商檢仲裁、技術(shù)監(jiān)督部門；建材陶瓷；石油化工等產(chǎn)品、整機及零部件的高低溫沖擊試驗。

滿足標準：

GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

 GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

 GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

 GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

 GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗

 GJB150.5A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗

 GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法方法107溫度沖擊試驗

LED高低溫快速溫度沖擊試驗箱，設(shè)備選型